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公司优势

1、客户优势    
2、服务优势    
3、多元优势    
4、拓展优势

公司宗旨

    坚持 "忠诚服务，笃守信誉"的职业道德，以科学规范的管理、专业细致的服务、精湛实用的技术、富有朝气的团队，在BGA TEST、IC TEST、边界扫描(Boundary scan)JTAG测试、生产测试自动化和质量管理信息化领域，为客户成功提供全方位服务。

JTAG边界扫描(boundary scan)产品行业应用

1、金鹏飞JTAG测试平台在高集成度产品的应用
2、金鹏飞JTAG测试平台在高可靠类产品的应用
3、金鹏飞JTAG测试平台在电信设备类产品的应用
4、金鹏飞JTAG测试平台在终端产品的应用
5、金鹏飞JTAG测试平台在定制消费类产品的应用
　

成功案例

C700手机JTAG边界扫描测试
3G基站RF系统自动测试系统
CDMA生产质量管理信息系统
CDMA直放站自动测试系统
WCDMA直放站自动测试系统
PHS直放站自动测试系统
手机自动测试系统
电源模组自动测试系统
双工器自动测试系统
LNA自动测试系统
mp3/mp4边界扫描测试系统
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JTAG信号定义

ALTERA JTAG信号：JTAG1、JTAG2、JTAG3
AMD JTAG信号：JTAG4、JTAG5、JTAG6
ARM JTAG信号：JTAG7、JTAG8、JTAG9
ATMEL JTAG信号：JTAG10、JTAG11
CYPRESS JTAG信号：JTAG12、JTAG13
IBM JTAG信号：JTAG14、JTAG15
LATTICE JTAG信号：JTAG16、JTAG17
MIPS JTAG信号：JTAG18
MOTOROLA JTAG信号：JTAG19、JTAG20、JTAG21
PHILLIPS JTAG信号：JTAG22
ST JTAG信号：JTAG23
TI JTAG信号：JTAG24
TOSHIBA JTAG信号：JTAG25
XILINX JTAG信号：JTAG26、JTAG27、JTAG28
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新闻及专题文章

推出中英文版边界扫描及自动测试系统，增加并行多通道测试功能大大拓展测试能力。

推出可定制用户界面的命令行边界扫描测试系统，启动界面如下：

IC封装测试系统及服务：BOUNDARY SCAN（边界扫描）IC TEST类设备，提供常见器件型号验证及管脚封装功能测试，范围包括FBGA IC TEST、BGA IC TEST、HBGA IC TEST、QFP IC TEST、PGA IC TEST、PLCC IC TEST、TSSOP IC TEST、DIP IC TEST等。

关键字：BOUNDARY SCAN、JTAG、BGA TEST、IC TEST、功能测试。

IC功能测试系统及服务：BOUNDARY SCAN（边界扫描）IC TEST类设备，提供各种常用芯片的直流功能测试，测试范围包括存储器测试（SRAM、FLASH、SDRAM、DDR等）、逻辑器件测试、BUFFER测试、ADC/DAC测试、SPI接口芯片测试、IIC接口芯片测试、外围接口芯片测试、RELAY测试等！

金鹏飞推出JTAG测试培训课程!

金鹏飞在JTAG测试领域与总参开展合作!

金鹏飞推出支持用户自定义界面的JTAG及ATE测试系统!

金鹏飞科技论坛开通!

金鹏飞完成JTAG测试功能与ATE自动测试系统的集成，该技术实现为提升生产测试开发效率，推动生产测试策略优化起到了催化作用!

DFT时代的多端口ATE实现--JTAG测试系统扩展应用!

金鹏飞边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统全面兼容ALTERA加载工具。

金鹏飞边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统推出模拟和功能测试应用扩展功能!

金鹏飞边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统在NETERION公司PCIe网络传输产品生产测试中的应用。

金鹏飞边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统推出兼容IEEE1149.5及IEEE1149.6标准的JTAG测试功能。

金鹏飞推出新一代扩展测试解决方案，该产品有效解决了电路板测试过程中的动态配置、并行加载、广播加载和扩展测试等问题，对提升测试覆盖率和测试开发效率意义重大!

金鹏飞签约富士康!

金鹏飞国人项目交付!

金鹏飞与北大就边界扫描测试技术应用开展合作!

金鹏飞嵌入式边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统通过一航专家组评审验收,金鹏飞科技为提升我国国防装备现代化水平做出新的贡献!

金鹏飞科技开展"应用为本"JTAG产品客户激励推广活动!

金鹏飞通过开展产品服务制度优化活动,以更规范的产品服务流程和更完善的服务质量评估系统进一步提升服务质量，为客户提供更优质的服务。

金鹏飞推出支持OEM开发的边界扫描(Boundary-scan)JTAG测试系统

金鹏飞推出混合边界扫描(Boundary scan)JTAG测试平台

金鹏飞推出以太网边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统

金鹏飞推出BGA边界扫描(Boundary scan)器件JTAG测试方案

金鹏飞推出存储器边界扫描(Boundary scan)JTAG测试方案

金鹏飞嵌入式边界扫描JTAG测试方案

金鹏飞边界扫描(Boundary scan)JTAG测试系统助力JTAG测试行业应用推广

金鹏飞推出基于JTAG原理的边界扫描(Boundary scan)JTAG测试平台

C700手机边界扫描测试报告

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ATE.NET和TESTSTAND 2.0的对比

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488-PCI GPIB卡安装使用说明

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怎样在HT82357 USB GPIB卡上运行NI开发环境下使用

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选择存储器测试策略的方法和原则

SRAM边界扫描(Boundary Scan)测试方案
NOR FLASH边界扫描(Boundary Scan)测试加载方案
NAND FLASH边界扫描(Boundary Scan)测试加载方案
协议总线测试方法研究
XXX单板JTAG测试报告
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上下拉电路设计在边界扫描测试中的作用
JTAG测试算法对待测件工作环境的设计要求
边界扫描(Boundary Scan)测试应用规划
非边界扫描(Boundary Scan)器件的JTAG测试方法与技巧
JTAG应用脚本开发指导
国内测试应用领域的现状调查与发展分析
测试系统有效性分析方法初探
新技术新工艺应用带来的测试需求变化
现代管理方法对测试技术发展的影响
测试技术面临的挑战与机遇
现代测试技术发展趋势分析
金鹏飞测试系统的产品理念与实现方法
金鹏飞测试系统在测试资源整合优化中的作用和效果评估
金鹏飞测试系统的适用性和产品发展规划
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